Теплотехника, энергетика, экология, книги, чертежи, видео, фото, программы » Материаловедение » Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля - Брандон . Д


60-е и 70-е годы XX века в западной науке получили название «материаловед-ческой революции». Она привела к появлению целого ряда новых материалов — полимеров, керамик, волокнистых и наполненных композиционных материалов, а затем и материалов с поверхностными покрытиями. Эта революция проявилась и в том, что примерно с 1960-х годов в промышленности началось снижение доли металлов, но стала расти доля полимерных, композиционных и керамических материалов. Наконец, возникла необходимость развертывания широких научных исследований, в результате чего в настоящее время примерно каждый третий ученый является материаловедом.
Но эта революция была бы невозможна без постоянного развития методов исследований. В частности, данная книга посвящена основным методам исследования микроструктуры материалов. Условно ее можно разделить на три части. В первой описаны основы кристаллографии (глава 1) и рентгеновский дифракционный анализ кристаллической структуры (глава 2). Во второй части рассматриваются физические основы оптической (глава 3) и электронной микроскопии (глава 4). Третья часть посвящена количественным методам микроанализа (главы 5, 6 и 7).
Следует отметить, что последняя книга об оптической микроскопии была издана более 20 лет назад, а книги по электронной микроскопии на русском языке вообще не издавались. В настоящее время оптические микроскопы имеются во многих исследовательских лабораториях, но возможности этих приборов используются далеко не полностью, во многом из-за распространенного мнения, что работе на оптическом микроскопе учиться не нужно. Электронные микроскопы в десятки раз дороже, работают на них специалисты, но даже профессионалы высокого класса часто плохо представляют себе физические принципы работы прибора.
В еще большей степени проблема отсутствия информации относится к микроаналитическим методам электронной микроскопии, которые появились сравнительно недавно. Рентгеновские микроанализаторы встроены в конструкцию самых новых электронных микроскопов. Использование микроаналитических методов требует определенных знаний и, в частности, понимания причин, которые могут привести к появлению серьезных ошибок.
Назначение данной книги заключается в том, чтобы восполнить этот пробел. Издание рассчитано на ученых, инженеров и студентов, желающих узнать о принципах работы оптического и электронного микроскопа. Книга написана весьма просто и не должна вызвать затруднений при чтении. В то же время, она дает очень качественное и, вместе с тем, широкое представление об описываемом предмете. Все эти преимущества делают данную книгу если не незаменимой, то уж, во всяком случае, безусловно полезной для изучения широким кругом специалистов.
В заключение я благодарю эксперта Госстандарта РФ к.т.н. О.В.Егорову, которая написала дополнение к главе 3.

 

 

 

 

Скачать с depositfiles

Скачать с turbobit

 

Скачать с letitbit

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 



Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться или Войти на сайт под своим именем.

Новости по теме